本书系统地介绍数字系统测试理论和方法，包括测试生成、故障模型、故障模拟、可测试性设计、内建自测试等内容。本书共分为三部分：**部分介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法等；第二部分介绍数字系统的可测试性设计理论和方法、内建自测试BIST、测试数据压缩方法等；第三部分主要讨论系统测试的方法。本书概念清晰、层次分明、定义和证明准确、算法推导和阐述简练。每章附有大量练习题可帮助读者消化吸收所学的概念。
本书可供数字系统设计相关技术人员参考，也可作为高等院校相关专业高年级本科生或研究生的教材。

译者序
译者简介
中文版前言
前言
本书是如何写出来的
第1章 绪论
第2章 建模
2.1 基本概念
2.2 逻辑级的功能建模
2.3 寄存器级的功能建模
2.4 结构模型
2.5 建模的层次
参考文献
习题
第3章 逻辑模拟
3.1 应用
3.2 基于模拟设计验证中的问题
3.3 模拟的类型
3.4 未知的逻辑值
3.5 编译后模拟
3.6 事件驱动模拟
3.7 叶延模型
3.8 元件求值
3.9 冒险检测
3.10 门级事件驱动模拟
3.11 模拟引擎
参考文献
习题
第4章 故障模型
4.1 逻辑故障模型
4.2 故障检测和冗余
4.3 故障等价和故障定位
4.4 故障支配
4.5 单固定型故障模型
4.6 多固定型故障模型
4.7 固定的RTL变量
4.8 故障变量
参考文献
习题
第5章 故障模拟
5.1 应用
5.2 通用故障模拟技术
5.3 组合电路的故障模拟
5.4 故障采样
5.5 统计故障分析
5.6 本章小结
参考文献
习题
第6章 单固定型故障测试
6.1 基本问题
6.2 组合电路中的单固定型故障的自动测试生成
6.3 时序电路SSF的ATC
6.4 本章小结
参考文献
习题
第7章 桥接故障测试
7.1 桥接故障模型
7.2 无反馈桥接故障的检测
7.3 桥接故障的检测
7.4 桥接故障模拟
7.5 桥接故障的测试生成
7.6 本章小结
参考文献
习题
第8章 功能测试
……
第9章 可测试性设计
第10章 测试压缩技术
第11章 内建自测试
第12章 逻辑级诊断
第13章 自校验设计
第14章 PLA测试
第15章 系统级诊断
索引