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电子元器件可靠性实验工程
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电子元器件可靠性实验工程

  • 作者:罗雯 魏建中 阳辉
  • 出版社:电子工业出版社
  • ISBN:9787121009655
  • 出版日期:2005年03月01日
  • 页数:0
  • 定价:¥58.00
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    目录
    第1章概论
    1.1可靠性术语和参数
    1.2电子元器件的可靠性表征
    1.3可靠性试验的目的和分类
    1.4可靠性试验技术的发展
    参考文献
    第2章可靠性数学及应用
    2.1寿命分布
    2.2抽样检验
    2.3试验数据的处理方法
    参考文献
    第3章寿命试验
    3.1寿命与应力的关系
    3.2指数分布寿命试验
    3.3加速寿命试验
    3.4寿命试验中的一些技术问题
    参考文献
    第4章环境试验
    4.1概述
    4.2气侯环境试验
    4.3机械环境试验
    4.4水浸渍试验
    4.5低气压试验
    4.6太阳辐射试验
    4.7电离辐射试验
    4.8盐雾腐蚀试验
    4.9霉菌试验
    4.10沙尘试验
    4.11地震试验
    4.12声震试验
    4.13运输试验
    4.14天然环境试验
    4.15综合环境试验
    参考文献
    第5章极限应力试验
    5.1极限应力试验的概念
    5.2进行极限应力试验的目的和作用
    5.3极限应力试验的电参数测试
    5.4极限应力试验的程序
    5.5极限应力试验方法
    5.6案例
    参考文献
    第6章电子元器件鉴定试验
    ……
    第7章可靠性筛选试验
    第8章可靠性增长试验
    第9章元器件失效分析和失效机理
    第10章破坏性物理分析(DPA)
    第11章使用状态中元器件失效预测技术
    第12章试验数据信息智能化管理系统(LIMS)
    参考文献

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