出版日期：2008年01月
ISBN：9787122029485
[十位：7122029484]
页数：170
定价：￥26.00
店铺售价：￥10.40
（为您节省：￥15.60）
店铺库存：1
本
正在处理购买信息，请稍候……
我要买：
本
* 如何购买
联系店主：
15105991830 15960395334
店主推荐图书：
-
￥11.60
-
100分
满分
确认收货后30天未评价，系统默认好评！
[2022-05-19 14:52:12]
厦门市
-
100分
满分
确认收货后30天未评价，系统默认好评！
[2022-05-05 20:09:26]
陈**
深圳市
-
100分
满分
确认收货后30天未评价，系统默认好评！
[2022-05-05 12:51:28]
张**
漳州市
-
100分
满分
确认收货后30天未评价，系统默认好评！
[2022-04-28 12:14:32]
贺**
克拉玛依市
-
100分
满分
确认收货后30天未评价，系统默认好评！
[2022-04-22 22:57:03]
朱**
东莞市
《集成电路测试技术基础》内容提要：
《集成电路测试技术基础》包括数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术三大部分内容,主要介绍逻辑数字集成电路测试、时序数字电路的测试、内嵌自测试的原理和方法、模拟集成电路测试技术、混合信号测试技术。另外,《集成电路测试技术基础》配有一张DVD演示光盘,主要介绍的是混合信号集成电路的测试原理和方法,包括混合信号测试系统的硬件组成、硬件连接及操作、LabVIEW软件的使用等,与图书文字内容相辅相成,以助于深化理解测试的概念。
《集成电路测试技术基础》适用于集成电路测试领域的技术人员阅读,也可作为微电子专业本科生和研究生的教材。
《集成电路测试技术基础》图书目录：
第1章数字集成电路中常见的故障
1.1基本概念
1.2故障模型
1.2.1固定故障模型
1.2.2桥接故障
1.2.3在CMOS集成电路中的中断故障和晶体管固定关断故障
1.2.4延迟故障
1.3暂态故障
第2章组合逻辑电路的测试方法
2.1数字电路的故障诊断
2.2组合逻辑电路的向量生成技术
2.2.1一维敏感路径法
2.2.2布尔差分法
2.2.3D算法
2.2.4路径引导算法
2.2.5扇出引导算法
2.2.6延迟故障检测
2.3组合逻辑电路中多故障的检测
第3章可测试性逻辑电路的设计
3.1Reed-Muller扩展法
3.2三级或-与-或设计
3.3可测试逻辑的自动综合
3.4多级组合逻辑电路的可测试性设计
3.4.1单体提取法
3.4.2双体提取法
3.4.3双体及补体同时提取法
3.5可测试逻辑电路的综合
3.6在组合逻辑电路中路径延迟故障的测试
3.7可测试的PLA设计
第4章时序电路的测试方法
4.1使用迭代法对时序电路进行测试
4.2状态表验证法
4.3基于电路结构的测试方法
4.4功能故障模型
4.5基于功能故障模型的测试向量生成
第5章时序电路可测试性设计
5.1可控制性和可观测性
5.2提高可测试性的AdHoc设计规则
5.3可诊断时序电路的设计
5.4可测试时序电路设计中的扫描路径技术
5.5电平敏感型扫描设计(LSSD)
5.5.1时钟无冒险锁存
5.5.2LSSD设计规则
5.5.3LSSD方法的优点
5.6随机扫描技术
5.7局部扫描
5.8使用非扫描技术进行可测试性时序电路的设计
5.9相交检测
5.10边界扫描技术
第6章内嵌自测试
6.1BIST的测试向量生成技术
6.1.1穷举测试法
6.1.2伪穷举测试向量生成技术
6.1.3伪随机向量生成法
6.1.4确定性测试法
6.2输出响应分析
6.2.1转换计数
6.2.2并发检验
6.2.3签名分析法
6.3循环型BIST
6.4SoC设计中的BIST/DFT综合策略
第7章模拟电路的测试
7.1简介
7.1.1模拟电路特性
7.1.2模拟故障机理和故障模型
7.2模拟电路的测试
7.2.1模拟电路测试方法
7.2.2模拟测试波形
7.2.3直流参数测量
7.2.4交流参数测试
第8章混合信号测试
8.1模数转换器简介
8.2ADC和DAC的电路结构
8.2.1DAC电路结构
8.2.2.ADC电路结构
8.3ADC和。DAC的特性参数和故障模型
8.4IEEE1057标准
8.**DC在时域内的测试
8.5.1输出编码
8.5.2编码转换等级测试(静态)
8.5.3编码转换等级测试(动态)
8.5.4增益和偏置测试
8.5.5线性化误差和*大静态误差
8.5.6正弦波适应测试
8.6频域ADC的测试
8.7混合信号测试总线标准——IEEE1149.4标准
8.7.1IEEE1149.4标准概述
8.7.2IEEE1149.4电路结构
8.7.3IEEE1149.4标准的指令
8.7.4IEEE1149.4的测试模式
第9章混合信号测试应用简介
9.1测试方案
9.2测试结果
参考文献
……
《集成电路测试技术基础》文章节选：
集成电路测试技术是集成电路产业链中不可缺少的一个环节,在国内,该技术处于刚起步阶段,随着国内集成电路设计水平的不断提高,测试问题越来越成为限制产品上市时间的瓶颈。
在集成电路测试技术中,我国无论在技术发展、机器制造、人才培养方面,都满足不了产业的要求,针对此问题,北方工业大学开始了集成电路测试人才的培养探索,在没有相关模式借鉴的条件下,摸索出了一套人才培养方案,并已经顺利实施,所培养的人才呈现供不应求的局面。
在集成电路测试专业的建设中,得到了产业界的大力支持和帮助,尤其是南瑞集团的叶国樑先生与编著者进行了多次有益的探讨,为本专业建设提供了很多宝贵意见,在此表示*诚挚的谢意。五年来,在北京市教委和北方工业大学的大力支持下,北方2T_业大学微电-子**的全体教师在该方向上进行了孜孜不倦的探索,在此特别向这些同事表示感谢,他们是张晓波、杨兵、鞠家欣、张静。
特别感谢北京市科委的科技新星计划的支持,在该计划的支持下,笔者2007年岁末到美国明尼苏达大学进行了学术访问,为本书的顺利完成提供了保障。