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图书详情
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出版社
-
ISBN9787810067201
-
作者
-
页数213
-
出版时间1994年10月01日
-
定价¥7.80
-
所属分类
内容提要
本书是在工业辐射温度测量这一重要科技领域中我国自己编写的
一本很有特色的专著。由于作者在这一方面的贡献，将会有力地推动我
国辐射测温技术的进一步发展。
作者在阐述红外辐射各定律、红外探测器和单、双色辐射温度计原
理的基础上，全面介绍了红外辐射测温中的各种干扰，尤其是关于黑体
辐射源的理论和技术的论述，有很高的理论和应用价值，如对基尔霍夫
理想黑体的物理模型的证明，以及作者**提出的第二类黑体辐射源
的新概念、物理模型、有效发射率的理论公式、在线发射率和全热流测
量方法等。
本书理论和实践
一本很有特色的专著。由于作者在这一方面的贡献，将会有力地推动我
国辐射测温技术的进一步发展。
作者在阐述红外辐射各定律、红外探测器和单、双色辐射温度计原
理的基础上，全面介绍了红外辐射测温中的各种干扰，尤其是关于黑体
辐射源的理论和技术的论述，有很高的理论和应用价值，如对基尔霍夫
理想黑体的物理模型的证明，以及作者**提出的第二类黑体辐射源
的新概念、物理模型、有效发射率的理论公式、在线发射率和全热流测
量方法等。
本书理论和实践
目录
绪言
第1章 工业生产对温度测量的需求与现状
1.1概述
1.2烧结过程对温度测量的需求
1.3高炉过程对温度测量的需求
1.4转炉过程对温度测量的需求
1.5连铸与轧制过程对温度测量的需求
第2章 红外辐射测温基础
……
第1章 工业生产对温度测量的需求与现状
1.1概述
1.2烧结过程对温度测量的需求
1.3高炉过程对温度测量的需求
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1.5连铸与轧制过程对温度测量的需求
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