1.方法误差是由于分析方法本身的不足所造成的误差。例如:滴定分析中,滴定反应不完全、或因指示剂引起的滴定终点与化学计量点不符合,或发生了副反应等;沉淀重量分析中,沉淀部分溶解、杂质共沉淀和后沉淀、灼烧时沉淀的分解和挥发等;光度分析中,显色反应可逆性大、共存物质的干扰等。这些都系统地使测定结果偏高或偏低。方法误差对测定结果的影响较大,一般需通过分析方法的正确选择或对分析方法的校正来消除方法误差。
2.仪器误差是指由于仪器的某部件制造不够精密,或长期使用导致某些性能改变而产生的误差。例如:分析天平的两臂不等长,砝码受腐蚀后质量有所改变;容量仪器的刻度不够准确等。通常是通过对仪器进行校准来消除仪器误差。
3.试剂误差是指所用试剂不纯或蒸馏水中含有微量的被测物或含对测定有干扰的杂质所引起的误差。因此,实验中要求使用合格试剂和合格蒸馏水,以减小试剂误差。有些情况下需通过空白试验来消除试剂误差。
4.操作误差是指由于操作人员的主观原因所造成的误差。例如:不同操作人员对滴定终点指示剂颜色变化的敏感性不同(偏深或偏浅)。操作人员主观上为了提高实验数据的精密度而产生的判断倾向,如对仪器指针位置或对量瓶刻度产生判断差异等,均可引入操作误差。
因为系统误差对测定结果的影响大且比较固定,所以须找出误差产生的原因,通过校正实验加以消除,并对分析系统加以改进。
二、偶然误差
偶然误差又称随机误差,是由一些偶然因素所造成的误差。例如实验室温度、气压、相对湿度的偶然变化;电压、分析仪器的工作状态的微小变动;试样处理过程中操作的微小差异;分析天平或滴定管读数的不确定性等,都可能使测定结果产生波动,产生偶然误差。
偶然误差属于不可定误差。它的方向(正或负)和大小都不固定,甚至有时无法控制,因此不能用加校正值的方法消除,但偶然误差的出现服从统计规律。如果对同一样品进行多次测量,就会发现大的误差出现的概率小,小误差出现的概率大;**值相同的正、负误差出现的概率大致相等,它们之间常能相互抵消。因此,通过增加平行测定次数,取平均值表示测定结果,可以减小偶然误差。
系统误差和偶然误差可能在一次测定中同时存在,而且二者的划分并不是**的,有时很难区别某种误差是系统误差还是偶然误差。例如滴定分析中观察终点颜色变化时,有人总是偏浅或偏深,产生的操作误差应属于系统误差。但在多次测定中观察滴定终点颜色的深浅程度不可能完全一致,因此也必然有偶然误差。
除上述两种误差之外,还可能出现由于分析人员的粗心大意或不按规程操作而造成的误差,称为过失误差。如分析过程中造成溶液溅失、器皿不洁净、加错试剂、仪器异常而未被发现、读数错误、记录和计算错误等会造成过失误差,这种过失误差的出现无规律性,因此在分析工作中应加强责任心、认真细致,以避免过失误差。含有过失误差的测定值会异常偏大或偏小,在数据处理时应将其舍弃。
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