定价:¥128.00
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出版日期:2018年07月
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本书第3版完全囊括了该领域的新发展现状,并包括了新的教学手段,以帮助读者能更好地理解。第3版不仅阐述了所有新的测量技术,而且检验了现有技术的新解释和新应用。
本书仍然是专门用于半导体材料与器件测量表征技术的教科书。覆盖范围包括全方位的电气和光学表征方法,包括更专业化的化学和物理技术。熟悉前两个版本的读者会发现一个彻底修订和更新的第3版,包括:
反映新数据和信息的更新及订正图表和实例
260个新的参考文献有关新的研究和讨论的专题
每章结尾增加用来测试读者对内容理解的新习题和复习题
读者将在每章中找到完全更新和修订的节。
另外还增加了两个新章节:<div class="book-detail-content"> 本书第3版完全囊括了该领域的新发展现状,并包括了新的教学手段,以帮助读者能更好地理解。第3版不仅阐述了所有新的测量技术,而且检验了现有技术的新解释和新应用。<br /> 本书仍然是专门用于半导体材料与器件测量表征技术的教科书。覆盖范围包括全方位的电气和光学表征方法,包括更专业化的化学和物理技术。熟悉前两个版本的读者会发现一个彻底修订和更新的第3版