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  • 半导体测试技术原理与应用

    半导体测试技术原理与应用

    定价:¥28.00 旧书价:¥9.80 节约:¥18.20 库存: 官网有售

    9787502441012 / 刘新福 杜占平 李为民 / 冶金工业出版社 / 2007年01月 / 304页 / 约重0.330KG

    简介:本书在介绍电学参数测试原理的基础上,重点介绍了具有国际先进水平的国内外首台微区电阻率测试仪原理与应用,具有很高的实际应用价值。全书共分11章,1-6章讨论了微区电学参数测试的重要性,综述了当今已研究出……

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